บริการกล้องจุลทรรศน์อิเล็คตรอนแบบส่องกราด

ข้อมูลทางเทคนิคของเครื่องมือที่เปิดให้ใช้บริการ

1) JEOL JSM – IT 100

Analysis range : x8 – x300,000 

Type of sample :

  • โลหะแข็ง สูงไม่เกิน 8 มิลลิเมตร ความกว้างและยาวไม่เกิน 10 มิลลิเมตร  

Stub :

  • Dimension 10 mm สูงสุด 4 stubs /รอบ  

  • Dimension 32 mm ชึ้นกับขนาดของชิ้นงาน

EDS (Oxford) :​

  • Type : Silicon drift type

  • Energy resolution : 129 ev หรือต่ำกว่า

  • Detectable element : Beryllium to Uranium  

2) Quanta 250 Field-Emission SEM

Analysis range : x14 – x1,000,000 

Type of sample :

  • โลหะแข็ง สูงไม่เกิน 8 มิลลิเมตร ความกว้าง และยาวไม่ควรเกิน 12 มิลลิเมตร  

Stub :

  • Dimension 12 mm สูงสุด 8 stubs /รอบ  

  • Dimension 32 mm ขึ้นกับขนาดของชิ้นงาน

EDS (Oxford) :​

  • Type : Silicon drift type

  • Energy resolution : 129 ev

  • Detectable element : Beryllium to Uranium  

**เครื่องรุ่นนี้เปิดให้จองใช้บริการได้ขั้นต่ำครั้งละ 3 ชั่วโมง**​

P9241890.jpg

อัตราค่าบริการ

อัตราค่าธรรมเนียม FE-SEM

อัตราค่าธรรมเนียม SEM, JEOL

คำอธิบายอัตราการจัดเก็บค่าบริการ

1. การถ่ายภาพด้วย SEM และ วิเคราะห์ธาตุด้วย EDS คิดขั้นต่ำ 1 ชั่วโมง เศษของชั่วโมงถัดไปคิด 1/2 ชั่วโมง

2. อัตรา 1 หมายถึง อัตราสำหรับรัฐวิสาหกิจ หน่วยงานในกำกับของรัฐ ธุรกิจเอกชน องค์การระหว่างประเทศ
   บุคคลทั่วไป และมหาวิทยาลัยอื่นๆ

3. อัตรา 2 หมายถึง อัตราสำหรับนิสิต นักวิจัย บุคลากร หรือาจารย์ ภายในจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย

4. อัตรา 3 หมายถึง อัตราสำหรับนิสิต นักวิจัย บุคลากร หรือาจารย์ ภายในคณะวิศวกรรมศาสตร์ จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย

5. อัตรา 4 หมายถึง อัตราเร่งด่วนแบบเหมาจ่าย สำหรับทุกหน่วยงาน ถ้ามิได้ระบุไว้สามารถรับผลได้ภายใน 3 วันทำการ

ปฎิทินแสดงคิวขอรับบริการ การวิเคราะห์วัสดุขั้นสูง (SEM)