

ADVANCE MATERIAL ANALYSIS
บริการกล้องจุลทรรศน์อิเล็คตรอนแบบส่องกราด
ข้อมูลทางเทคนิคของเครื่องมือที่เปิดให้ใช้บริการ
1) JEOL JSM – IT 100
Analysis range : x8 – x300,000
Type of sample :
-
โลหะแข็ง สูงไม่เกิน 8 มิลลิเมตร ความกว้างและยาวไม่เกิน 10 มิลลิเมตร
Stub :
-
Dimension 10 mm สูงสุด 4 stubs /รอบ
-
Dimension 32 mm ชึ้นกับขนาดของชิ้นงาน
EDS (Oxford) :
-
Type : Silicon drift type
-
Energy resolution : 129 ev หรือต่ำกว่า
-
Detectable element : Beryllium to Uranium
2) Quanta 250 Field-Emission SEM
Analysis range : x14 – x1,000,000
Type of sample :
-
โลหะแข็ง สูงไม่เกิน 8 มิลลิเมตร ความกว้าง และยาวไม่ควรเกิน 12 มิลลิเมตร
Stub :
-
Dimension 12 mm สูงสุด 8 stubs /รอบ
-
Dimension 32 mm ขึ้นกับขนาดของชิ้นงาน
EDS (Oxford) :
-
Type : Silicon drift type
-
Energy resolution : 129 ev
-
Detectable element : Beryllium to Uranium
**เครื่องรุ่นนี้เปิดให้จองใช้บริการได้ขั้นต่ำครั้งละ 3 ชั่วโมง**


อัตราค่าบริการ
อัตราค่าธรรมเนียม FE-SEM
อัตราค่าธรรมเนียม SEM, JEOL
คำอธิบายอัตราการจัดเก็บค่าบริการ
1. การถ่ายภาพด้วย SEM และ วิเคราะห์ธาตุด้วย EDS คิดขั้นต่ำ 1 ชั่วโมง เศษของชั่วโมงถัดไปคิด 1/2 ชั่วโมง
2. อัตรา 1 หมายถึง อัตราสำหรับรัฐวิสาหกิจ หน่วยงานในกำกับของรัฐ ธุรกิจเอกชน องค์การระหว่างประเทศ
บุคคลทั่วไป และมหาวิทยาลัยอื่นๆ
3. อัตรา 2 หมายถึง อัตราสำหรับนิสิต นักวิจัย บุคลากร หรือาจารย์ ภายในจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
4. อัตรา 3 หมายถึง อัตราสำหรับนิสิต นักวิจัย บุคลากร หรือาจารย์ ภายในคณะวิศวกรรมศาสตร์ จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
5. อัตรา 4 หมายถึง อัตราเร่งด่วนแบบเหมาจ่าย สำหรับทุกหน่วยงาน ถ้ามิได้ระบุไว้สามารถรับผลได้ภายใน 3 วันทำการ